DIN 50440-1-1981 半导体工艺材料的检验.用光电导法测量硅单晶中复合载流子寿命.在方形试样上测量
作者:标准资料网 时间:2024-05-09 09:31:09 浏览:8048
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【英文标准名称】:Testingofmaterialsforsemiconductortechnology;measurementofrecombinationcarrierlifetimeinsiliconsinglecrystalsbymeansofphotoconductivedecaymethod;measurementonbar-shapedspecimens
【原文标准名称】:半导体工艺材料的检验.用光电导法测量硅单晶中复合载流子寿命.在方形试样上测量
【标准号】:DIN50440-1-1981
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1981-11
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:硅;定义;光电导性;寿命;电气工程;试验;测量;电子工程;半导体
【英文主题词】:photoconductivity;electricalengineering;definitions;semiconductors;life(durability);measurement;electronicengineering;testing;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:5P;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:半导体工艺材料的检验.用光电导法测量硅单晶中复合载流子寿命.在方形试样上测量
【标准号】:DIN50440-1-1981
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1981-11
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:硅;定义;光电导性;寿命;电气工程;试验;测量;电子工程;半导体
【英文主题词】:photoconductivity;electricalengineering;definitions;semiconductors;life(durability);measurement;electronicengineering;testing;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:5P;A4
【正文语种】:德语
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